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白光干涉表面形貌仪

产品/服务：
品牌：	CHOTEST中图仪器
有效期至：	长期有效
最后更新：	2024-12-09 22:28

单价：

面议

最小起订量：

1 台

供货总量：

99 台

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(发货期限：自买家付款之日起 30 天内发货)

公司基本资料信息

详细说明
规格参数

CHOTEST中图仪器SuperViewW1白光干涉表面形貌仪集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。主要应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等*域中，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米*别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

产品功能

1）SuperViewW1白光干涉表面形貌仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；

2）测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；

3）测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；

4）分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；

5）分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；

6）分析中同时提供*键分析和多文件分析等辅助分析功能。

新建项目2.jpg

SuperViewW1白光干涉表面形貌仪测量范围可从纳米*粗糙度到毫米*的表面形貌，可以快速获取被测工件表面三维形貌和数据进行检测，可用于成品质量的管理，确保良品合格率。测量过程简便，只需要操作者装好被测工件，在软件里设好视场参数，把物镜调节到被测工件表面，选择自动聚焦后，仪器就会主动找干涉条纹开始扫描测量。然后自动生成工件表面3D图像，*键输出反映工件表面质量的2D、3D参数，完成工件表面形貌*键测量。